薄膜測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
薄膜測厚儀采用機械接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。
薄膜測厚儀應用范圍：
（1）對金屬箔片等硬質材料厚度測量；
（2）接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點的厚度值；
（3）通過調節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張厚度測試、紙板材料厚度測試；
（4）用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度測量；
薄膜測厚儀的技術優(yōu)勢：
1、微電腦控制、大液晶顯示。
2、進口高精度傳感器，保證了測試精度。
3、嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持 各種非標定制。
4、測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統誤差。
5、手動、自動雙重測量模式，更方便客戶選擇。
6、配備微型打印機，數據實時顯示、自動統計、打印， 方便快捷地獲取測試結果。
7、打印大值、小值、平均值及每次測量結果，方便 用戶分析數據。
8、儀器自動保存多100組測試結果，隨時查看并打印。
9、標準量塊標定，方便用戶快速標定設備。
10、測厚儀配備自動進樣器，可一鍵實現全自動多點測量，人為誤差小。
11、薄膜測厚儀專業(yè)軟件提供測試結果圖形統計分析，準確直觀地將 測試結果展示給用戶。
12、配備標準RS232接口，方便系統與電腦的外部連接和 數據傳輸。
更新時間：2019-09-19
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